Учебная и научная литература> Естественные науки> Химия>

Общая химия

Каталог


:: Java книги :: Авто :: Астрология :: Аудио книги :: Биографии и Мемуары :: В мире животных :: Гуманитарные и общественные науки :: Детские книги :: Для взрослых :: Для детей :: Дом, дача :: Журналы :: Зарубежная литература :: Знания и навыки :: Издательские решения :: Искусство :: История :: Компьютеры :: Кулинария :: Культура :: Легкое чтение :: Медицина и человек :: Менеджмент :: Наука и образование :: Оружие :: Программирование :: Психология :: Психология, мотивация :: Публицистика и периодические издания :: Разное :: Религия :: Родителям :: Серьезное чтение :: Спорт :: Спорт, здоровье, красота :: Справочники :: Техника и конструкции :: Учебная и научная литература :Гуманитарные и общественные науки :Естественные науки :Биология :Науки о земле :Химия :Аналитическая химия :Биохимия :Коллоидная химия :Неорганическая химия :Общая химия :Органическая химия :Физическая химия :Химия полимеров :Технические науки :: Фен-Шуй :: Философия :: Хобби, досуг :: Художественная лит-ра :: Эзотерика :: Экономика и финансы :: Энциклопедии :: Юриспруденция и право :: Языки

Новинки


Volkswagen Arteon c 2017 по 2021 год, руководство по ремонту и эксплуатации в электронном виде (на английском языке)

Secondary Ion Mass Spectrometry

Автор: Paul van der Heide

Издательство: John Wiley & Sons Limited

Cтраниц: 1

Формат: PDF

Размер: 0

ISBN: 9781118916766

Качество: excellent

Язык:

Описание:

Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) • Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations • Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission • Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS) • Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions • Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other

Скачать Скачать легальную копию

Пресс - релиз

К настоящему времени нет отзывов!

Вход


Если Вы забыли пароль, щелкните здесь Вы новый клиент? Зарегистрируйтесь

Информация


Свяжитесь с нами Как скачать и чем читать